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レーザー励起白色光源 XWS-65(標準)用途例

フィルム測定における厚膜計の光源

フィルム測定における厚膜計の光源

190-2500nmまでの幅広いスペクトル分布で、近赤外(NIR)に対応する当光源では、近赤外線を用いた厚膜の測定用途の光源に最適です。
また、近赤外以外の波長を活かし、光学フィルタの測定・検査用途までカバーする測定器にも最適です。

レーザー励起白色光源 XWS-65(標準)製品詳細

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