190-2500nmまでの幅広いスペクトル分布で、近赤外(NIR)に対応する当光源では、近赤外線を用いた厚膜の測定用途の光源に最適です。
また、近赤外以外の波長を活かし、光学フィルタの測定・検査用途までカバーする測定器にも最適です。
レーザー励起白色光源 XWS-65(標準)用途例
フィルム測定における厚膜計の光源関連製品情報
レーザー励起白色光源 XWS-65(標準)
高輝度・高安定・点発光の白色光源。半導体ウエハーのアライメント照明、膜厚測定、表面トポロジーの解析、分光分析等の、幅広い用途で多くのお客様に選ばれています。
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