非破壊検査において、紫外線での干渉縞検査・表面検査、ウエハー・基板（半導体分野）の検査、近赤外での検査等の用途で当光源をご検討ください。
レーザー励起白色光源 XWS-65(標準)製品詳細レーザー励起白色光源 XWS-65(標準)用途例
非破壊検査におけるUV光源
関連製品情報
レーザー励起白色光源 XWS-65(標準)
高輝度・高安定・点発光の白色光源。半導体ウエハーのアライメント照明、膜厚測定、表面トポロジーの解析、分光分析等の、幅広い用途で多くのお客様に選ばれています。
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