キャビティリングダウン反射率計／損失計　GLACIER®シリーズ

5ppmまでの極低損失を測れる、世界でも稀な市販キャビティリングダウン反射率計。波長355~2000 nmまで、3つの構成から最適な1台を選択可能。

GLACIER®シリーズは、キャビティリングダウン（CRD）分光法を用いて、先進的な光学コーティングの損失を5 ppm（反射率99.9995%）まで定量できる反射率計／損失計です。
従来の吸収・反射測定法は1,000 ppm（反射率99.9%）以上が実用限界であり、現代のスーパーミラーの評価には感度が不足します。CRD法ではキャビティ内に蓄積された光のエネルギー減衰時間から損失を測定するため、損失が小さいほど測定精度が自動的に高まるという特長があり、超高反射ミラーや低損失反射防止（AR）膜のキャラクタリゼーションに最適です。

本シリーズは波長構成・光源方式の異なる3モデル（GLACIER／GLACIER-123／GLACIER-C）で展開しており、用途や波長要求に応じて選択できます。0.5"・1"光学素子を簡便に再現性よく取り付けられるスプリングロード式ミラーホルダーを備え、PCと専用ソフトウェアが同梱され、計測・解析を数秒で完結します。

問い合わせ

製品情報

モデル一覧仕様アプリケーション

モデル一覧

製品モデル	波長範囲	概要
GLACIER^®	375 – 1,550 nm （ダイオードレーザー）	・ベーシックモデル：単一波長構成で導入可能・後から最大3波長まで追加可能・最小フットプリント90 x 45 cm²（単波長時）・375 – 1,550 nm の範囲で任意波長を選択
GLACIER^®-123	355, 532, 1,064 nm （マイクロチップレーザー）	・1064 nm 高調波（355／532／1064 nm）を1台でカバー・市販品として355 nm CRD測定に対応する初の機種・375 – 1,550 nm のダイオードレーザー第4波長を追加可能・YAG／DPSS／UVレーザー用ミラー検査に最適
GLACIER^®-C	450 – 2,000 nm （スーパーコンティニウム＋モノクロメータ）	・特許取得済み：スーパーコンティニウム光源＋AOTFチューナブルモノクロメータ・450 – 2,000 nm の範囲で波長を自由選択・AOTFクリスタル7種類から組み合わせを選択（例: 640–1,100 nm ＆ 1,200–2,000 nm）・キネマティックマウントで波長変更が容易・高速

仕様

製品モデル	GLACIER^®	GLACIER^®-123	GLACIER^®-C
製品画像
測定原理	キャビティリングダウン分光法（CRD）
反射率測定範囲	最大99.9995%（5 ppmまで）
反射防止膜の特性評価	反射率0.0005%（5 ppm）まで
波長範囲	375 – 1,550 nm	355, 532, 1,064 nm （第4波長として375 – 1,550 nm のダイオードレーザー追加可能）	450 – 2,000 nm（自由選択）
光源	ダイオードレーザー	マイクロチップレーザー	スーパーコンティニウム光源＋チューナブルモノクロメータ（AOTF）
標準波長数	1	3	3^*
最大波長数	3	4	無制限
後付け波長追加	可（要工場アップグレード）^**	可（要工場アップグレード）^**	可
入射角	5° – 45°（および0°）
偏光	s偏光・p偏光（それぞれ独立測定）
対応光学素子サイズ	0.5", 1"（2"以上は要相談）
ミラー保持機構	スプリングロード式（応力なく再現性よく取り付け）
フットプリント	90 x 45 cm²（単波長時） 90 x 55 cm²（2波長以上）	90 x 55 cm²	90 x 55 cm²
データ取得・解析	高速データ収集およびリアルタイム解析。専用PC・ソフトウェア同梱、測定・解析は数秒で完了
その他	—	市販品で355 nm CRD測定に対応する初の機種	特許取得済み技術