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ハイパースペクトルカメラ SNAPSCAN-SWIR

ハイパースペクトルカメラ SNAPSCAN-SWIR

imec

SNAPSCAN SWIRは、内蔵されたスキャン機構により、外部の可動部品不要で高解像度のSWIRハイパースペクトルデータを高速に取得することができる小型・軽量のハイパースペクトルカメラです。
アクティブ冷却と高度なソフトウェア機能により、高いSN比を実現しています。

波長範囲1100-1650 nmにおいて、高い空間分解能とスペクトル分解能を持っており、プラスチックや繊維などのリサイクルや廃棄物の分類、SWIR領域に特性を持つ材料の評価などにご使用頂けます。
また、C‐マウント接続レンズのため、顕微鏡でもご使用可能です。

SNAPSCAN-SWIRの特徴

  • 内蔵のスキャン機構により、外部の可動部品不要でスナップショット撮影が可能
  • 高解像度 ( 最大 0.8MP,100スペクトルバンド)
  • 小型・軽量
  • 高いSN比を実現

SNAPSCAN-SWIRの製品情報

モデル一覧

SNAPSCAN-SWIRの仕様

タイプ SWIR
波長範囲 1,100 ~ 1,650 nm
スペクトルバンド数 100 バンド
FWHM 10 ~ 15nm (collimated)
空間分解能 最大 1,200 × 640 px
(0.8MP RAW per band)
撮影速度(※1) 100 ms ~ 10 sec
SNR 最大 600 : 1
bit数 12 / 13bit
レンズ
(オプション)
16 / 25 / 50 mm レンズ
F2.0 – C-マウント
インターフェース USB3.0 + GPIO + I/O for triggering
冷却 パッシブ&アクティブ冷却(ファン+TEC)
動作温度範囲 -5 ~ 50 ℃
保管温度範囲 -20 ~ 60 ℃
寸法
(L x W x H)
90 x 90 x 150 mm
重量
(レンズは含まない)
895 g
ソフトウェア HSI SNAPSCANソフトウェア
(raw dataの取得, データの前処理,
ハイパースペクトルデータキューブの可視化,分類)
ソフトウェア
スキャニングモード
デジタルTDI(max.4ステージ),
多重露光(1-40),
HDR露光 (1-10) ,
デジタルビニング(2×2, 3×3, 4×4),
波長ROI,
空間ROI
機械的仕様 自動ダークカウント用メカニカルシャッター,
三脚マウント(1/4"-20), サイドマウントM5取付穴

※1: 撮影パラメータ,照明,撮影対象物による


アプリケーション

  • リサイクル、廃棄物管理( 紙、木、プラスチック、繊維など )
  • 食品の品質評価、欠陥検査、選別
  • 医薬品の成分分析
  • 肌、化粧品の研究
  • 法医学・偽造品検査
  • 半導体薄膜の検査
  • マシンビジョン
  • 農業、ロボット工学
  • 鉱物、材料の特性評価
  • ハイパースペクトルイメージングの応用研究

テキスタイルの分類

ハイパースペクトルカメラsnapscanによる繊維の分類

異なる種類の黒色の繊維をSNAPSCAN-SWIRで取得したハイパースペクトルデータにより分類


imecのHSI Viewerは、ハイパースペクトルイメージング用解析ソフトウェアperClass Miraと統合しています。SNAPSCAN-SWIRとperClass Miraを用いて行ったテキスタイル分類の動画はこちらをご覧ください。



ナッツとナッツの殻の識別

ハイパースペクトルカメラsnapscanによるナッツと殻の識別

物質の識別

ハイパースペクトルカメラsnapscanによる白色の物質の識別・分類

異なる種類の白色の物質をSNAPSCAN-SWIRで取得したハイパースペクトルデータにより分類



評価キット

SNAPSCANの評価キットを用意しています。評価キットには、ハイパースペクトルカメラの他、光学系、ピエゾスキャニング、アクティブ冷却システム、照明、三脚マウントなどの主要コンポーネントと、解析ソフトウェアが含まれています。

 資料ダウンロード

ハイパースペクトルカメラ imec

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この製品の関連ソフトウェア

ハイパースペクトルイメージング用 ソフトウェア
perClass Mira

機械学習スペクトルデータ解析ツール。複数の画像を用いた機械学習で優れた統計モデルの生成が可能。様々なハイパースペクトルカメラと連携。

SNAPSCAN-SWIRに関するお問い合わせ

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