X線／EUV／VUV 分光製品

高感度、広いスペクトルの計測、超高分解能など、それぞれ強みのある製品を取り揃えております。
目的や用途に合わせてお選びください。

高感度！低強度X線放射の絶対スペクトル測定が可能！

1回の測定で広いX線スペクトルを取得できる、高感度のX線分光器。低強度X線放射線源の絶対スペクトル測定、X線蛍光分析、EXAFS等が可能。

広いスペクトル範囲（6～210nm）を1回の計測で記録！

短パルスレーザー実験の研究・特性解明のために開発されたX線分光器。CCD検出器は安定した量子応答を有し、定量的測定が可能です。

紫外線・軟X線（5～150nm）の、高分解能スペクトル測定が可能！

超高分解能の測定が可能なX線分光器。検出器（CCDアレイ、CCDカメラ、MCP）の変更が可能など、目的・用途に応じてカスタマイズできます。

マイクロチャネルプレート（MCP:Microchannelplate）検出器は、X線およびVUVスペクトル範囲内のパルスプラズマ線源の時間分解イメージ作成またはスペクトル記録用に特別に設計されています。

X線/VUVのプラズマパルスの時間分解の視覚化が可能。異なるスペクトルフィルタ使用して、ワンショットでスペクトル・画像を記録できます。

組み込み式の光学フィルタ！波長カットオフを連続的に変更可能

本製品は追加のハードウェアで、分光計の入口スリットの前に設置して導入します。フィルタは特別設計のため、スペクトルのカットオフエッジを広い範囲で変更できます。